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LED實驗室量測系統
LED Measurement System For LAB

本系統提供實驗室等級的LED量測系統。使用高精密度的光譜儀、穩定的A光源、設計精良的光強分布箱、偵測器、 積分球、及人性化的電腦操作軟件,提供全光譜、 色溫、色度、波長、功率、光強度、光強分布、及照度等的全功能自動控制,達到需要的待測物各種光參數的量測。本系統由積分球、偵測器、光譜儀、電流計,光強分布箱,及電腦控制為主要元件,搭配獨家開發之控制軟體,在簡易的操作介面之下,提高測試準確度。並可達到自行校正波長及照度校正。 選用本系統進行LED晶片生產及封裝廠已有科學園區多家廠商。
此套系統使用的是掃瞄(scanning)式的光譜儀,解析度高,量測穩定,是實驗室等級的光譜儀。提供穩定的A光源。可自行生產標準件供後續的LED量測做標準。為了滿足使用者多樣的需求,提供了不同的測試項目,包括了 IV,( x, y), λD, λP, Tc, CRI, FWHM, Ip, VF, IR, IF, △VF 與 THY 。它也能測量不同形式的 LED,例如 LED Chip, SMD, Lamp, Module, LED Display 。

 量測項目及規格
 Reverse current(逆向電流) (Ir)  0-1,00μA, programmable 0 to –50V 
 Forward bias voltage(順向電流) (Vf)
 Forward current (IF)
 0-20V programmable
 0.1-1000mA
 Peak wavelength(尖峰波長)(λp)  350-1050nm
 Luminance intensity(光強度)  0-50,000mcd
 Radiance intensity(輻射強度)  0-5000mW/sr
 Color temperature(色溫)  1000-20,000K
 Dominated wavelength(主波長)(λd)   400-700nm
 Chromaticity coordiantes(色度座標)  CIE (x,y)
 Correlated Color temperature
 (相對色溫)
 CCT, 1,000-100,000K
 Purity(純度)  100%
 FWHM(半寬波長)  0-200nm
 Center wavelength(中心波長)  350-1050nm
 Centroid wavelength(重心波長)  350-1050nm
 CRI(演色指數)  0-100%

應用範圍
LED晶片廠研發部及品管部, LED 封裝廠研發部及品管部

系統特色
• 全自動化量測設計,操作介面簡單
• 使用者可自行與標準樣品做校正,無須負擔龐大的校正費用
• 軟體可配合使用者的習慣或需要做部分修改
• 可產生各種使用者所需單色光譜光源及功率
• 採用CIE1931,CIE1976 U.C.S標準及演算方法

系統硬體
 型號  規格/型號
 光譜儀  ARC SP-150, 400nm-1100nm,解析度0.1nm
 Picoanmeter 電流計  Keithley#6485
 OPTIMUM 積分球  ISP-050, 50mm積分球
 電源供應器  Keithley#2400

 OPTIMUM System
 Controller

 Windows系統自動控制操作程式 software driver,
 desktop pc & LCD monitor console 軟體規格為 
 Visual Basic 6.0開發,相容 Windows 98以上版本
 Optical Components  偵測器, 三色光源, 光源箱, 光纖, 及其他光學配件

系統控制軟體(軟體操作視窗) 以上為白光測試結果