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光強度量測系統
Luminance/Intensity / Bean Pattern Measurement

Model# LI-100

產品介紹 INTRODUCTIONS
利用特別設計的光管加上高精密度分光光譜儀,光學治具,積分球, 及光學軟體,可達到快速精確量測LED單點光強度(單位為mcd)及色度座標、色溫、演色指數、主波長、尖峰波長、半波寬,峰值等。可同時量測高亮度及低亮度LED的光強度

產品特點 FEATURES
• 符合CIE pub.No.127條件A及條件B
• 測試範圍: 1mcd to 30,000mcdd
• 量測精度誤差
• 解析度: 0.1mcd(A條件),0.01mcd(B條件)
• 重覆性: 0.01mcd(B條件)
• 採用CIE1931,CIE1976 U.C.S演算方法
• 色容差使用MacAdams 7 steps elliptical及 NBS計算法兩種
• 符合2008年ANCI新標準計算方法

系統軟體量測視窗

系統軟體量測視窗
量測項目 量測範圍 量測精度
Luminous intensity(光強度) (Iv) 1-30,000mcd ±4%
Peak wavelength(尖峰波長)(λp) 350-1050nm ±1nm
Dominate Wavelength( 主波長)(λd) 380-640nm ±1nm
Color temperature(色溫) 1000-20,000K Follow (x,y)
Chromaticity coordiantes(色度座標) CIE (x,y) ±0.005
Correlated Color temperature(相對色溫) CCT, 1,000-100,000K ±5%
Purity(純度) 100% ±5%
FWHM(半寬波長) 0-200nm ±5%
Center wavelength(中心波長) 350-1050nm ±2nm
Centroid wavelength(重心波長) 350-1050nm ±2nm
CRI(演色指數) 0-100% ±5%